液晶ディスプレイ駆動用ICのテストに対応し、ファインピッチデバイスや金バンプデバイスのテストが可能です。耐熱性と耐久性に優れたプローブ材質を採用しています。
Quad-tier
> 9µm
Tri-tier
> 11µm
Stagger
> 14µm
inline
> 22µm
DUT
1 x 2